當前位置：首頁 > 技術文章 > 膜厚儀的介紹

膜厚儀的介紹

更新時間：2012-08-24 點擊次數：3127

膜厚儀，又叫膜厚計、膜厚測試儀，分為磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度，也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
CM-8826 膜厚儀 技術參數：
功能：測量導磁物體上的非導磁涂層和非磁性金屬基體上的非導電覆蓋層的厚度
測量方法：F 磁感應 NF 渦流
測量范圍：0～200um/500um/1000um/～15000um
分辨率：0.1/1
zui小測量面積：6mm
zui薄基底：0.3mm
自動關機
使用環(huán)境：溫度：0-40℃ 濕度：10-90%RH
準確度：±（1～3%n）或±2um
公制/英制：可選擇
電源：4節(jié)7號電池
電池電壓指示：低電壓提示
外形尺寸：126X65X27mm
重量：81g（不含電池）
測量范圍可選：0-200um to15000um

廣州蘭泰儀器有限公司

地址：廣州市荔灣區(qū)海北裕海路265號B棟3樓

郵箱：282153509@qq.com

傳真：86-020-81509478

快速鏈接

關注我們

歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息：

歡迎您關注我們的微信公眾號
了解更多信息

最近免费观看高清韩国日本大全,色yeye香蕉凹凸一区二区-,用力挺进她的花苞,国产国产乱老熟女视频网站97

膜厚儀的介紹